Full‐field spectroscopic measurement of the X‐ray beam from a multilayer monochromator using a hyperspectral X‐ray camera

Added 49 days ago (08.12.2019)
Authors: Matthieu N. Boone, Frederic Van Assche, Sander Vanheule, Silvia Cipiccia, Hongchang Wang, Laszlo Vincze, Luc Van Hoorebeke
Read article

Can't read the article? Order it!

Kaukopalvelu on maksullista. Lue ennen tilausta hinnasto ja toimitusehdot. Voit myös tehdä hankintaehdotuksen julkaisusta.
Nimi:
Lähiosoite:
Postinumero ja -toimipaikka:
Laskutusosoite (jos eri):
Mahd. laskutuksen vastuualuenumero:
Fax:
Puhelin:
Sähköposti:
Toimitustapa:
Toimituksen kiireellisyys:
Kommentit:
Taustaorganisaatio:
Jos tilattua aineistoa ei löydy
Terkon omista kokoelmista,
se voidaan tilata muualta:

Roskapostitarkistus. Kirjoita kuvan kirjain:
      
   


Jäljenteitä toimitettaessa noudatetaan tekijänoikeuslain ja -asetuksen säädöksiä. Digitaaliset kopiot toimitetaan tulostettaviksi paperille. Vastaanottajan tulee tuhota tiedostot välittömästi paperitulostuksen jälkeen.